低溫培養(yǎng)箱（低溫保存箱）

低溫培養(yǎng)箱（低溫保存箱）

產(chǎn)品名稱：壓力開關(guān)壽命試驗(yàn)臺(tái) 產(chǎn)品型號(hào)：LYK3-1

LYK3-1型壓力開關(guān)壽命試驗(yàn)臺(tái)用來檢測(cè)機(jī)械式壓力開關(guān)的開關(guān)次數(shù)。  
設(shè)備特點(diǎn)：  
1.測(cè)試壓力可調(diào)，測(cè)試次數(shù)可調(diào)。  
2.自動(dòng)控制壓力開關(guān)通斷。  
3.自動(dòng)記錄壓力開關(guān)接通、斷開及故障次數(shù)。  
4.zui大同測(cè)壓力開關(guān)數(shù)量10，測(cè)試臺(tái)位工裝可根據(jù)壓力開關(guān)類型訂制。  
5.zui大限度減少用氣量，氣源不足時(shí)，自動(dòng)暫停測(cè)試并提示用戶更換氣源，待氣源充足后，繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。  
6.自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，報(bào)告可訂制。 

產(chǎn)品名稱：固體材料動(dòng)態(tài)彈性模量測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：IET-0I

固體材料動(dòng)態(tài)彈性模量測(cè)試儀型號(hào)：IET-0I

固體材料彈性模量測(cè)試儀  的優(yōu)勢(shì)  
可測(cè)試固體材料固有頻率，楊氏模量，剪切模量，泊松比，內(nèi)耗  
無損檢測(cè)，測(cè)后試樣可用于其它測(cè)試。  
非接觸式檢測(cè)，不需要與試樣耦合，測(cè)后試樣表面潔凈。  
采用FFT轉(zhuǎn)換，分析準(zhǔn)確可靠，頻譜圖直觀。  
不需連續(xù)輸出頻率從小到大的正弦波信號(hào)給發(fā)射探頭（此處采用為推崇方法）。  
測(cè)試準(zhǔn)確，操作簡單、快速。  
可隨時(shí)捕捉頻譜圖任一點(diǎn)的頻率及材料的楊氏模量、剪切模量。  
只需輕輕一擊，材料的楊氏模量、剪切模量、泊松比及內(nèi)耗即可顯示在程序界面上，不需單獨(dú)選擇每個(gè)頻率，計(jì)算然后判斷結(jié)果是否準(zhǔn)確，大大降低了人為誤差。  
可直觀觀察材料的共振峰，也可同一界面觀察諧振峰（如果試樣有層裂、大的缺陷時(shí)會(huì)出現(xiàn)諧振峰）。  
采用進(jìn)口高精度、穩(wěn)定性好的傳感器與數(shù)據(jù)處理器。  
軟件數(shù)據(jù)分析精度高，操作界面友好。 
二 技術(shù)參數(shù) 
測(cè)量項(xiàng)目： 固有頻率、楊氏模量、剪切模量、泊松比、內(nèi)耗 
頻響范圍: 20Hz—22kHz 
頻率精度： 0.1Hz 
測(cè)試范圍： 0.5-1000GPa （楊氏模量、剪切模量） 
采 樣 率： 44.1k/48k/88.2k/96k/176.4k/192k Hz 
輸入阻抗： 1.8KΩ 
測(cè)試精度： 0.5% 
靈敏度: 1mv/pa 
時(shí)基精度: 50ppm 
試樣形狀： 條狀或棒狀 
三 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 
無損檢測(cè)、操作簡單； 
采用 FFT 轉(zhuǎn)換，分析準(zhǔn)確可靠，頻譜圖直觀； 
不需連續(xù)輸出頻率從小到大的正弦波信號(hào)給發(fā)射探頭（此處采用為推崇方法）； 
只需輕輕一擊，材料的楊氏模量、剪切模量、泊松比及內(nèi)耗即可顯示在程序界面上； 
可直觀觀察材料的共振峰，也可同一界面觀察諧振峰（如果試樣有層裂、大的缺陷時(shí)會(huì)出現(xiàn)諧振峰）； 
進(jìn)口高精度、穩(wěn)定性好的傳感器與數(shù)據(jù)處理器； 
*軟件，數(shù)據(jù)分析精度高，操作界面友好。